JX-2000颗粒形貌分析仪，能准确直观颗粒形貌，并进行颗粒数据处理，适用于控制分析产品质量。该系统由光学显微镜、USB摄像机、图像分析软件、电脑、打印机等部分组成。
一、应用范围
适用于石墨、磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金刚石、碳粉、药粉、涂料、水泥、硬质合金、催化剂、云母粉、填料等各种粉末物料颗粒的形貌观察和粒度分析。
二、 性能特点
1、 工业级摄像头高速采集，光学显微镜放大成像，图像快速显示于电脑，直接观察颗粒形貌，专用软件进行颗粒数据处理。
2、 测量范围：0.5μm～3000μm
3、 全平场消色差物镜，分辨率0.07微米，光学放大倍数1600倍，打印倍数4000倍(A4幅面)
4、 提供等面积和等周长两种基准下的个数、直径、面积、体积、圆形度等分布数据。同时提供颗粒数、D10、D50、D90、平均粒径、表面积、长径比等粒度分布数据，配有(30)多种图像分析和处理功能，可以满足各种图像处理需要。
5、 对采集的图像进行调整高度、宽度、亮度、对比度、滤波、填充等，提高分析分辨率，网格标注颗粒尺寸等功能，使测试结果更真实可靠。
、 颗粒形貌图像可存盘和打印，还可输出多种格式的测试报告。另可根据行业特殊要求，设计磨料、硅灰石等专用软件。
三、图像分析处理功能
1、 色调处理：负像、灰度化、色调调整、亮度、对比度调整；
2、 图像矫正：水平镜像、垂直镜像、90度（逆时针)、90度(顺时针) 、旋转、放大、缩小任意比例缩放等；
3、 测量单位：微米、毫米、厘米、英吋任选；
4、 图像增强：对比度均衡、膨胀、腐蚀等；
5、 图像处理：图像锐化，边缘平滑，二值化，边界滤波，分析目标擦除、孔洞填充，手工擦除，手工连接，粒子属性查看、设置标尺、网格等功能；
6、 分析参数：
（1）几何参数：每个颗粒的质心 X、Y 坐标位置，像素；
（2）当量几何参数：等面积圆直径，等周长圆直径，长径，短径，长径比；
（3）外接几何参数：每个颗粒的外接圆直径；
（4）光密度参数：图像 R、G、B、灰度分布；
（5）形态学参数：长径比，圆度系数；