一 用途：
SunScan冠层分析系统通过测量作物冠层PAR值提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan探测器也可被用来描绘作物冠层PAR的分布图。
二 原理：
根据冠层吸收的Beer法则、Wood的SunScan冠层分析方程以及Campbell的椭圆叶面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子传感器来测量、计算和分析植物冠层截获和穿透的光合有效辐射及叶面积指数。
三 软件计算
Sunscan系统主要是通过测量冠层截获的光合有效辐射量(PAR)来计算叶面积指数（LAI），软件中涉及到的参数有：
直射和散射入射辐射光、叶面积指数、叶片透光率、叶倾角、天顶角、穿透辐射。在这几个参数中，天顶角是根据当地的时间、经度和纬度来计算的，叶片透光率和叶倾角是需要用户自己估计的，其他的参数都是直接测量得出的。
四 组成：
l SS1探头：一支1米长，内嵌64个光合有效辐射传感器的的探测器
l SunData软件：用来对测量参数进行分析处理
l BF3传感器：可计算出作物冠层的PAR以及直射光与漫射光的比例关系。减少太阳变化对测量造成的影响。
l 三角架：用来安放BF3
l 数据采集终端：一种采集和分析读数的高效、轻便的掌上电脑。
五 基本技术指标：
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SS1探测器
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探测器工作区域
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1000×13mm宽，传感器间距15.6mm
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探测器光谱响应
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400 ~ 700nm (PAR)
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探测器测量时间
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120ms
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探测器分辨率
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0.3μmol. m-2.s-1
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探测器最大读数
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2500μmol.m-2.s-1
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操作温度
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0 ~ 60℃
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BF5
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PAR测量范围
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0-2500μmol.m-2.s-1（总的和散射）
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PAR精度
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总辐射
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±10μmol.m-2.s-1±12%
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散射
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±10μmol.m-2.s-1±15%
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工作温度
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-20到+50℃
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太阳总辐射测量范围
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0-1250 W/m2
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总辐射精度
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总辐射
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±5 W/m2 ±12%
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散射
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±20 W/m2±15%
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光照度测量范围
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0-200klux
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光照度精度
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总辐射
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±0.6klux±12%
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散射
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±0.6klux±15%
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电缆长度
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标准为10米
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RPDA1手持终端
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屏幕
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1/4VGA屏幕，太阳光下依然显示清晰
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操作系统
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Windows Mobile6
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显示项目
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LAI、PAR平均值、每个传感器的读数
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手持终端工作环境
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IP67防护等级，-30-60℃
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1手持终端存储
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支持>100M
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六 产地： 英国
产品详细信息请查询网站www.harvestchina.com.cn 或拨打电话：010-51262021
本公司还提供SunScan无线冠层分析系统