本仪器广泛的应用于透明，半透明或不透明物质。观察目标：大于3 微米小于20微米，比如金属陶瓷、电子芯片、印刷电路、LCD基板、薄膜、纤维、颗粒状物体、镀层等材料表面的结构、痕迹，都能有很好的成像效果。
主要技术参数
1、 镜筒：T三目，30°倾斜
2、高眼点目镜：WF10X/Φ25mm
3、平场物镜：4X、10X、20X、40X、50X
4、转换器：五孔
5、工作台尺寸：310mm×350mm
6、调焦：粗微动同轴，范围36mm，微动0.002mm
7、光源：垂直照明，卤素灯12V100W，亮度可调
8、DIC装置：偏光装置、明暗场转换
选配件：
1、目镜：12.5X、16X、20X
2、带尺可调目镜：HWF10X（精度0.01mm或0.005mm）
3、软件：金相分析软件、粒度分析软件、测量软件等式
4、电脑图像分析系统：
金相分析系统：LW400LMDT主机、图像适配镜、数码摄像头、金相分析软件、电脑
电脑型：LW400LMDT主机、图像适配镜、数码摄像头、电脑
数码型：LW400LMDT主机、图像适配镜、数码相机、电脑