一、仪器的主要用途和特点：
XPR-500型透射偏光熔点测定仪是地质、矿产、冶金、石油化工、化 学纤维、半导体工业以及药品检验等部门和相关高等院校的高分子...等专业最常用的专业实验仪器。可供广大用户作单偏光观察，正交偏光观察，锥光观察以及显微摄影，来观察物体在加热状态下的形变、色变及物体的三态转化。
本系统广泛应用于高分子材料、聚合物材料等化工领域，适用于研究物体的结晶相态分析、共混相态分布、粒子分散性及尺寸测量、结晶动力学的过程记录分析、液晶分析、织态结构分析、熔解状态记录观察分析等总多研究方向。
偏光显微熔点测定仪XPR-500系统汇集了光电、模式识别、精密加工、图象学、自动控制、模量学等总多研究领域的当前领先技术，多年研究开发的结果，在国内享有绝对领先.本仪器的具有可扩展性，可以接计算机和数码相机。对图片进行保存、编辑和打印。
二、仪器的主要技术指标：
1.显微镜技术参数:
名 称 | 规 格 |
总放大倍数： | 40X---630X |
无应力消色差物镜 | 4X/0.1 |
10X/0.25 |
25X/0.40 |
40X/0.65 |
63X/0.85 |
目镜 | WF10X/18mm |
| 10X网格目镜 10X分划目镜 10X刻度目镜 |
试片 | 石膏1λ试片 云母1/4λ试片 石英楔子试片 |
测微尺 | 0.01mm |
滤色片 | 蓝色 |
聚光镜 | N.A.1.25带可变光栏摇摆式聚光镜 |
集光镜 | 高亮度固定式照明 |
载物台 | 直径160mm，360°高精度等分刻度圆型旋转载物台，游标格值6’，中心可调，带锁紧装置 移动尺:移动范围30mm×40mm |
镜筒 | 45度平拉式三目观察（52mm-75mm) |
光源 | 卤素灯（6V/20W.AC 85V-230V）亮度可调 |
显微成像系统 | 1X摄影接口，标准C接口，300万数字成像系统，最高分辨 率：2048X1536，采用5V供电，功耗小，连接简单：USB2.0，图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便 , 标准镜头接口 |
2. 精密温度控制仪的用途：
CK-300型精密温控加热台是专为材料学、生物化学、冶金学、有机化学、高分子及纳米材料学而研制。与光学或电子显微镜配合使用，在微观上观察其溶化、升华、结晶过程中的状态和各种变化。
加热台由精密温度控制仪和载物恒温工作台二部分组成，二者由一5芯线缆插口连接，载物恒温工作台置于光学或电子显微镜载物台上。特别适用配合偏光显微镜构成偏光熔点测量系统。
三、熔点仪技术参数:
1)输入电源： 交流 220V ±10% 45-60HZ 2)热台加热工作电源：直流 24V 1.5A
3)功耗：75W 4)温度范围：室温——500℃
5)热台外体最高温度：热体500℃;室温25℃时≤70℃ 6)热体最大载物重量：200克
7)工作方式：连续 8)精度：测量精度：全范围≤±0.5%
9)系统波动度：±1℃ 10)最大升温速度：室温——100℃ ≤40秒
11)最慢升温速度达500℃时间: 5小时 12)可设置升温速度范围：0.5——36秒/℃
13)即刻恒温响应时间： ≤0.01秒
四、系统组成:
1、偏光显微镜XPR-500 2、电脑适配镜
3、300万像素彩色数字摄像机 4、偏光热台CK-300 5、计算机（选购