产品介绍
硬件独特性:
加装自动防辐射泄漏装置，主动性的保证使用人员安全；带电动开盖装置，令测试更轻松。超高的分辨率可轻松解决贵金属行业无损分析的任何复杂要求。
周艳 13682384615
激发源：Mo靶的X光管 风冷 (无辐射）
测量点尺寸：1～2mm
样品室: 长400 mm×宽: 300mm×高: 0～90 mm样品放大成像系统
软件：XRF6.0菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算
探测器：Si-PIN 探测器
其它规格：
电压:100～127或200～240V,50/60 Hz
最大功率:144W
最大处尺寸:450mm*650mm*350mm
重量:32kg
技术指标：
分析范围：0.001%～99.999%
测量时间：自适应
测量精度： ± 0.001%--0.1%
分辨率 ：120-170eV at Mn K-aipha
测试环境：常温常态
分析元素：任意20种元素（Na-U的集合中）
高压器：4～80Kv
分析：多通道模拟
操作系统:Windows2000/Me/XP /win7
镀层测量：
镀层厚度范围<30μm
可测量元素种类：金Au 、银Ag 、铂Pt 、钯Pd、铑Rh 、钌Ru 、铜Cu 、锌Zn 、镍Ni 、镉Cd、铟In另外对铱Ir,锇OS等70多种元素。
最大测量层数：5层
测量精度：0.03μm
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