产品介绍
G15-J型 激光平面干涉仪是一种使用方便的光学精密计量仪器,主要用于精密测量光学平面度,仪器配有激光光源(波长为6328A)。对于干涉条纹可目视,测量读数,照相留存记录。
上海宙山精密光学仪器有限公司立足于先进的光学制造技术,着重发展尖端光学、精密机械、计算机相结合的(光、机、电一体化)光学仪器的开发、生产和销售。... 了解更多>>