产品介绍
SRP-4面铜探头测试技术参数
专用于Oxford牛津CMI563与CMI760(CMI700)座台式孔面铜测厚仪
铜厚测量范围:
化学铜:10 μin – 500 μin
(0.25 μm – 12.7 μm)
电镀铜:0.1
mil – 6
mil (2.5 μm – 152 μm)
线形铜可测试线宽范围:8
mil – 250
mil (203 μm – 6350 μm)
准确度:±1%
(±0.1 μm)参考标准片
精确度:化学铜:标准差0.2
%;电镀铜:标准差0.5
%
分辨率:0.01
mils ≥ 1
mil, 0.001 mils<1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm,
0.01 μm
< 10 μm,
0.001 μm
< 1 μm
24小时销售热线:13760874597 田先生
