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椭偏仪是一种用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构的光学测量仪器。由于测量精度高，适用于超薄膜，与样品非接触，对样品没有破坏且不需要真空，使得椭偏仪成为一种极具吸引力的测量仪器。

应用领域

半导体、微电子、MEMS、通讯、数据存储、光学镀膜、平板显示器、科学研究、物理、化学、生物、医药等等

可测材料

半导体、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、自组装单分子层、多层膜物质和石墨烯等等

上海尔迪仪器科技有限公司代理bruker椭偏仪，以及bruker公司其他的多种产品，包括bruker原子力显微镜、bruker台阶仪、bruker三维光学轮廓仪、bruker纳米压痕仪、bruker摩擦磨损试验机，需要了解相关信息，可拨打021-62211270进行咨询。