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 目前，工业生产中常用的物位测量仪表，依据测量原理，大致可以分为以下几类。
    (1)直读式。直接观察物面位置，比如直接开有窗口或用连通管直接观察波面、分界面的位置。
    (2)浮力式。主要是液位计，通过液体对浮子的浮力作用，把液面位置显示出来。
    (3)压力式。通过在物位发生变化时引起压力或差压变化的原理来进行物位测量。
    (4)电气式。利用物位变化直接引起某些电气参数变化的原理，如电阻式、电容式、电感式等等。
    (5)光学式、声学式、微波式。利用光波、声波或微波的穿透，反射、吸收特性测量物位，例如超声波液位计、激光液位计、微波式液位计等。
    (6)核辐射式。利用放射性同位素的射线(β射线、y射线)的透射和反射特性来测量物位和分界面位置。
除上述分类法以外，还有按功能分的，如连续测量、定点报警、指示远传以及自动控制等。这些物位仪表大多是利用介质表面与相邻空气或另一介质的物理性质不同而区别出物位来的，如对不同的密度，导电性能、介电性能、传声性能、透光性能、吸收核辐射的性能等进行测量。物料界面测量示意图如图所示。本文转自http://www.yb1518.com
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