一米平面光栅摄谱仪
详细介绍：
仪器用途：WP1型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内 作发射光谱分析的仪器。广泛应用于教学、地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析。
平面反射光栅技术规格:
光栅线数 1200条/mm 1200条/mm
有效面积 50*30mm 50*30mm
闪耀波长 300nm 570nm
色散（nm/mm) 一级 0.8 一级 0.8 二级 0.4
理论分辨本领 6*10E4 6*10E4 12*10E4
适用工作波段 200nm-600nm 400nm-800nm 200nm-400nm
仪器特点：
1、光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，彗差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清
晰，结构均匀。
2、仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
3、仪器缝前的哈特曼光栏及三阶，九价减光板。
4、适用控制箱控制谱过程。
5、仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
6、仪器配置工作台，安装和操作方便。
仪器技术规格：
工作波段：200nm-800nm
仪器焦距：f=1050mm
谱板尺寸：240*90mm
相对孔径：D/f=1:25
狭缝指标：变化范围0.003-0.3mm,手轮格值0.001mm