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主要规格
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规格描述
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X射线激发系统
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垂直上照式X射线光学系统
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空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
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标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
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功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准
75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选
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装备有安全防射线光闸
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二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
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准直器程控交换系统
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最多可同时装配6种规格的准直器
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多种规格尺寸准直器任选：
－圆形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
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测量斑点尺寸
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在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
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在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
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样品室
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CMI900
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CMI950
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－样品室结构
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开槽式样品室
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开闭式样品室
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－最大样品台尺寸
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610mm x 610mm
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300mm x 300mm
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－XY轴程控移动范围
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标准：152.4 x 177.8mm
还有5种规格任选
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300mm x 300mm
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－Z轴程控移动高度
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43.18mm
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XYZ程控时，152.4mm
XY轴手动时，269.2mm
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－XYZ三轴控制方式
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多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
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－样品观察系统
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高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
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激光自动对焦功能
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可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
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计算机系统配置
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IBM计算机
惠普或爱普生彩色喷墨打印机
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分析应用软件
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操作系统：Windows2000中文平台
分析软件包：SmartLink FP软件包
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－测厚范围
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可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
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－基本分析功能
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采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
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样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
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可检测元素范围：Ti22 – U92
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可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
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贵金属检测，如Au karat评价
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材料和合金元素分析，
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材料鉴别和分类检测
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液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
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多达4个样品的光谱同时显示和比较
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元素光谱定性分析
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－调整和校正功能
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系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移
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－测量自动化功能
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鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”
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多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、和重复测量模式
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测量位置预览功能
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激光对焦和自动对焦功能
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－样品台程控功能
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设定测量点
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连续多点测量
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测量位置预览(图表显示)
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