比表面测定仪
JW-BK型 静态容量法比表面及孔径分布测定仪
比表面测定仪产 品 特 点：
北京精微高博科学技术有限公司独创的静态容量法比表面及孔径分布测试仪，可以进行比表面及中孔和微孔分析，测试压力点多，精度高，重现性好，可以代替进口产品；
比表面测定仪功 能： ＢＥＴ比表面测定（单点法、多点法），Ｌａｎｇｍｕｉｒ比表面测定，等温吸附和脱附曲线测定，ＢＪＨ孔径分布、总孔体积、平均孔径测定，t-图法微孔测定
比表面测定仪气 体： 高纯氮气
比表面测定仪极限真空： ６．８×１０－２Ｐａ
比表面测定仪氮 分 压： 0.０１～０．995 ， 控制精度： ０．00025
比表面测定仪压力设置： 最小间隔0.01，全程压力测试点可高达100个；
比表面测定仪测试范围： 比表面 ≥0.01M2/g , 无规定上限 ， 孔 径 0.7 ~ 400nm
比表面测定仪测试精度： ≤±２%
比表面测定仪样品数量： 1个测试样品，2个预处理样品同时进行，互不干扰
比表面测定仪专用软件： 功能齐全，界面友好，操作方便
比表面测定仪运行方式：全自动运行，可以长时间无人值守；
比表面测定仪特点
* 本公司独创的静态容量法测定仪，可以进行比表面及中孔和微孔分析，测试压力点多，精度高，重现性好，可以代替进口产品；
* 独特的抽真空与充气速度的精确控制，当吸附等温线测试完成后，自动转入脱附等温线的测试，高度自动化，长时间运行也无需人员职守；
* 测试只用氮气，不用氦气，氮气及液氮消耗量极小，大大降低了测试成本；