武汉GT-BIR-33半导体ORT高温老化柜是一种用于评估多个半导体器件的可靠性并进行大容量检查的设备。其主要目的是检查半导体器件是否过早失效，ORT老化柜被设计用于集成电路（IC）和其他电子设备（如激光二极管）的静态和动态老化，以模拟实际产品在不同温度条件下的老化情况。
武汉GT-BIR-33半导体ORT高温老化柜工作原理：
ORT高温老化柜通过模拟高温环境，使产品在更短的时间内完成老化过程，从而检测产品在使用过程中的可靠性和稳定性。具体来说，ORT高温老化柜利用高温、高湿、高压和高频率等条件下的环境作用，使产品在短时间内经历跨越多年甚至十几年的老化过程。老化柜内通常为恒温恒湿的环境，根据不同的老化要求设定不同的温度、湿度和时间，以满足不同产品的老化需求。
武汉GT-BIR-33半导体ORT高温老化柜技术特点：
1、精确的温度控制系统：采用先进的温度控制技术，能够实现高精度的温度控制，确保测试过程中的温度稳定性。
2、多功能环境模拟：除了高温环境外，还可以模拟湿度、气压等多种环境因素，以提供更全面的老化测试。
3、大容量测试能力：通常具有较大的内部空间，可以同时容纳多个电子产品进行测试，提高测试效率。
4、安全可靠的操作：设备设计符合相关安全标准，具备多重安全防护措施，确保操作人员的安全。
技术参数：
容积：约3m3
老化区域尺寸：约3000*600*1650（mm） 宽*深*高
治具区域尺寸：约3000*320*1650（mm） 宽*深*高（治具货架与产品货架位置对应安装）
外箱尺寸：约3350*1200*2300（mm） 宽*深*高
重量：约700kg
温控功能：高温箱内温度可监控、可自动调整、有趋势监控记录
温控方式：程式/定值运行
加热方式：电热内循环风
额定功率：约AC 380V 50 HZ 12KW
高温控制范围：RT+10℃～85℃
温度波动：≤±1℃（空载）
温度均匀度：≤±3℃（空载）
温度分辨率： 0.1℃
温度传感器：2显1控制，PT100
半导体高温老化柜具备以下安全功能：
1、过温保护：当设备内部温度超过预设的安全范围时，过温保护功能会立即启动，切断电源，防止设备继续升温，从而避免设备损坏或引发火灾等危险情况。
2、烟雾报警：如果高温老化房内部出现烟雾，烟雾报警功能会及时发出警报，提醒操作人员注意火警风险，并及时采取应对措施。
3、紧急停机功能：在紧急情况下，操作人员可以通过紧急停机按钮或开关立即切断设备的电源，使设备停止运行，以确保人员和设备的安全。
4、过载保护：当设备负载超过其额定值时，过载保护功能会启动，自动切断电源，防止设备因过载而损坏。
5、短路保护：如果设备内部发生短路，短路保护功能会迅速切断电源，防止短路引发火灾或其他安全事故。
6、定时功能：高温老化房通常配备定时功能，可以根据测试需求设定设备的运行时间。当达到设定时间后，设备会自动停止运行，避免因忘记关闭设备而造成的能源浪费或安全风险。