HAST可靠性试验CAF测试环境箱
面对电子产品越来越小型轻量及高密度封装，因结露吸湿等因素造成的绝缘不良现象暨离子迁移现象日益突出,绝缘电阻劣化(离子迁移)评估系统配之HAST试验箱联动，可高精度连续监测，简便评估因离子迁移现象引起的寿命及绝缘电阻劣化相关问题。
HAST是提高环境应力(温度&湿度&压力)，在不饱和湿度环境下(湿度：85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间，用来评定PCB压合&绝缘电阻，与相关材料的吸湿效果状况，缩短高温高湿的试验时间。
HAST可靠性试验CAF测试环境箱
主要用途
●助焊剂、印刷电路板、光刻胶、钎料、树脂、导电胶等有关印刷电路板、高密度封装的材料
●BGA、CSP等精细节距IC封装件
●有机半导体相关（有机EL)
●电容、连接器等其他电子元器件及材料
●各种绝缘材料的吸湿性特性评估
HAST可靠性试验CAF测试环境箱
适用标准
●JPCA-ET04
●IPC -TM-650 _2.6.3F
●IPC-TM-650 2.6.3.1E
●IPC-TM-650 2.6.3.4A
●IPC-TM-650 2.6.3.6