Naneos Partector TEM纳米颗粒采样器是简单性与强大功能之间的完1美结合：您可以将其用作简单的调查工具，以快速识别工作场所中的纳米颗粒来源。您也可以使用它直接将颗粒采样到标准透射电子显微镜（TEM）网格中。当涉及单颗粒分析时，TEM是强大的分析技术。
如果您拥有诸如TEM / SEM显微镜之类的辅助工具以进一步查看粒度分布和颗粒形态以及/或用于分析被颗粒化学成分的分析仪器，那么Partector TEM将发挥zui大的作用。
Partector TEM粒子采样器可让您使用一台仪器全面评估工作场所安全。Partector TEM采样器是唯1一可以在线确定样品覆盖率并在达到zui佳覆盖率时停止采样的纳米颗粒采样器。它是一种综合测量，允许首先进行测量，然后在必要时进行采样。由于TEM沉积机制是由检测到的浓度控制和监视的，因此您再也不会有空的或超载的样品。利用Google Earth Java工具，它可以显示在哪里测量浓度。
Naneos Partector TEM纳米颗粒采样器特点：
LDSA浓度范围：0-20,000 μm2 /cm3
1秒的高时间分辨率（根据要求更快）
粒径范围广，从10 nm到10 μm
设备尺寸：142x78x29mm-可以放入典型的衬衫口袋
重量：430克
流量：0.45 lpm
在标准3.05mm TEM网格上静电沉积颗粒
采样效率：50nm时约为3％
6个可更换网格架
自动确定zui佳采样时间，当网格具有zui佳覆盖范围时，设备停止采样
内部可充电锂离子电池，运行时间通常为10小时
数据存储在μSD卡上（足够用于多年数据存储）
图形显示
高浓度警报，阈值可调
包括可在所有主要操作系统上运行的Java数据分析工具
Naneos Partector TEM纳米颗粒采样器优1势：
Naneos Partector TEM纳米颗粒采样器，Partector TEM粒子采样器应用：
气溶胶研究
过滤器测试
环境与气候研究
环境监控
室内和工作场所空气质量测量
个人曝光
