天星ED400氧化膜测厚仪 硬质氧化测厚仪 铝合金氧化膜测厚仪
ED400型 涡流测厚仪
ED400型涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型，仪器性能提高。
仪器适于测量各种非磁性金属基体上绝缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。
技术参数
测量范围：0～500 μm
测量精度： 0～50 μm：±1 μm；50～500 μm：±2%
分辨率：0～50 μm：0.1 μm；50～500 μm：1 μm； 0～500 μm：1 μm（可选）
使用温度：5～45℃
外形尺寸：150 mm×80 mm×30 mm
重量：280 g
