WPA系列可测量相位差高达3500nm，适合PC等高分子材料，是Photonic lattic公司以光子晶体制造技术开发的产品，独特的测量技术，高速而又精确的测量能力使其成为不可多得的光学测量产品。 该产品在测量过程中可以对视野范围内样品一次测量，全面掌握应力分布。适合用来测量光学薄膜或透明树脂。量化测量结果，二维图表可以更直观的读取数据。
WPA-200-L主要特点:
操作简单，测量速度可以快到3秒。
采用ＣＣＤ Camera，视野范围内可一次测量，测量范围广。
测量数据是二维分布图像，可以更直观的读取数据。
具有多种分析功能和测量结果的比较。
维护简单，不含旋转光学滤片的机构。
可测样品尺寸更大。
主要应用：
· 光学零件（镜片、薄膜、导光板）
· 透明成型品（车载透明零件、食用品容器）
· 透明树脂材料（PET PVA COP ACRYL PC PMMA APEL COC）
· 透明基板（玻璃、石英、蓝宝石……）
· 有机材料（球晶、FishEve）
技术参数：
项次
项目
具体参数
1
输出项目
相位差【nm】，轴方向【°】，相位差与应力换算（选配）【MPa】
2
测量波长
520nm、543nm、575nm
3
双折射测量范围
0-3500nm
4
测量微小分辨率
0.001nm
5
测量重复精度
<1nm（西格玛）
6
视野尺寸
33x40mm-240×320mm（标准）
7
选配镜头视野
3×4-12.9×17.2mm
8
选配功能
实时解析软件，镜片解析软件，数据处理软件，实现外部控制
测量案例：