DR平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率（DQE）和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间分辨率决定了对组织细微结构的分辨能力。考察DQE和空间分辨率可以评估平板探测器的成像能力。
DQE表示数字X线成像设备http://www.pl999.com/class.php?anclss=1&nclass=4在把射线影像转换成数字影像图像信噪比所保留的比率。在X线影像领域，射线影像的噪声是与曝光剂量密切相关的，DQE值同样也表达了数字影像设备对入射剂量的利用效率。而曝光剂量又与相接触的人员健康有着联系，所以DQE值是检测数字医用X射线诊断设备重要的技术指标。只有合理的选择DQE指标，才能获得完美的图像质量，使DR技术的应用更具有优势。用以确保影像诊断的高度符合率和准确性。 DQE值越高(极限值为1，即100％利用)，有效量子利用率高，输出信息也就越高。
DR的空间分辨率指图像空间范围内的解像力或解像度，以能够分辨清楚图像中黑白相间线条的能力来表示。黑白相间的线条简称线对，一对黑白相间的线条称之为一个线对，分辨率的线性表达单位是线对l毫米（LP/mm）。在单位宽度范围内能够分辨清楚线对数越多，表示图像空间分辨率越高。
在直接转换平板探测器中，空间分辨率决定于单位面积内薄膜晶体管矩阵大小（像素尺寸的大小）。矩阵越大薄膜晶体管个数越多（像素尺寸越小），空间分辨率越高，可以达到很高的空间分辨率。
在间接转换平板探测器中，由于存在散射现象，空间分辨率不仅决定于单位面积内薄膜晶体管矩阵大小，还决定于散射光的控制技术。间接转换平板探测器的空间分辨率不如直接转换平板探测器的空间分辨率高。
对于同一种平板探测器 , 在不同的空间分辨率时 , 其DQE是变化的。
非晶硅半板探测器的极限DQE比牧高，但是随看至间分辨率的提高，其DQE下降得牧多;而非晶硒平板探测器的极限DQE不如间接转换平板探测器的极限DQE高,但是随着空间分辨率的提高，其DQE下降比较平缓，在高空间分辨率时，DQE反而超过了非晶硅平板探测器。这种特性说明非晶硅平板探测器在区分组织密度差异的能力较强；而非晶硒平板探测器在区分细微结构差异
的能力较高。
非晶硒平板探测器要比非晶硅平板探测器在图像质量上更清晰，锐利度好，但非晶硒平板探测器在使用过程中对工作环境要求非常高，寿命短，故障率高，而且维护成本远大于非晶硅平板探测器，因此目前市场上DR领域还是以非晶硅平板探测器为主导。