显微反射光谱测量系统MicroTEQ-S1
显微反射光谱测量系统MicroTEQ-S1
显微反射光谱测量系统MicroTEQ-S1
集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上,实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成,自由灵活,帮助用户快速对样品微观结构,微观光谱信息的测试和分析;此外系统可以加装二维电控扫描台,通过软件控制,实现光谱二维扫面测量功能。
应用范围
微流控;
植物叶片研究;
激光材料评价;
生物和细胞测试;
光子晶体测试;
珠宝、古籍检测;
纳米材料分析;
拉曼模式
拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中,从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm,仅需通过更换探头和激光器,便可实现488nm、532nm、633nm、785nm激发波长的拉曼光谱测量。
搭配便携式拉曼光谱仪
显微光谱测试模块也能够完美适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼,即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量,还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。
其他模式
二维Mapping:选配二维电动平台,使用操作软件设置面扫描采样, 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据,可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。
光谱仪配置 | 拉曼 | 拉曼 | 荧光 |
光谱仪 | QEPRO@532nm | QEPRO@785nm | QEPRO-FL |
光谱范围 | 150-4200cm-1@532nm | 150-2000cm-1@785nm | 300-1050nm |
分辨率 | ~10cm-1@5um狭缝 | ~6cm-1@5um狭缝 | 1.5nm@5um狭缝 |
信噪比 | 1000:1 |
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A/D | 18位 |
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探测器 | 背照减薄型面阵CCD |
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杂散光 | 0.08%@600nm |
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线性度 | >99% |
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动态范围 | 85000:1 |
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暗噪声 | 6RMS@18位 |
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积分时间 | 8ms-60mins |
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激光器 | LASER-532 | LASER-785 | LASER-405 | LASER-450 |
激光波长 | 532nm | 785nm | 405+/-2nm | 450+/-2nm |
激光功率 | 0-300mW可调 | 0-500mW可调 | 0-200mW可调 | 0-200mW可调 |
线宽 | <0.2nm | <0.1nm | 2nm | 2nm |
寿命 | 10000h | 10000h | 10000h | 10000h |
拉曼探头 | RPB-532 | RPB-785 |
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OD值 | OD>6 | OD>6 |
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焦距 | 7.5mm | 7.5mm |
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激光输入端光纤 | 100um |
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光谱收集端光纤 | 200um |
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显微光谱测量模块 | Micro-S1 |
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光谱范围:400-1100nm |
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显微镜 | 4组平场消色差物镜:5X,10X,20X,50X |
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5X,数值孔径:0.15,工作距离:10.8mm |
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10X,数值孔径:0.3,工作距离:10mm |
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20X,数值孔径:0.45,工作距离:4mm |
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50X,数值孔径:0.55,工作距离:7.9mm |
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100X,数值孔径:0.8,工作距离:4mm(非标配,可选) |
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1/2”CMOS彩色CCD,2048*1536(300万像素) |
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载物台面积175mm×145mm,移动范围:76mm×42mm |
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二维电控平移台(可选配) | 一体式二维电控平移台,含控制器; |
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行程:50mmx50mm; |
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重复定位精度:2um; |
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移动分辨率:1um; |
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