PHASICS波前相位分析仪SID4…

PHASICS波前相位分析仪SID4-SWIR
产品简介
详细介绍
  • 参考报价:电议 产地:法国 品牌:PHASICS 型号:SID4-SWIR 更新时间:2019/5/30

产品特色:
? 高灵敏度,适合低能量红外光源
? 高分辨率:达 160×120 采样点
? 光路搭建简易,直接测量发散、准直光束
? 振动不敏感,易于对齐
? 高 NA 测量,无需转接镜头

主要参数:

1/ Wavefront sensor 5/ Lens under test
2/ Double-pass illumination unit 6/ Reference mirror
3/ Telescope 7/ Objective lens
4/ Flat surface 8/ Mirror under test
型 号 : SID4-SWIR 通 通 光 光 孔 孔  径 : 9.60 × 7.68 mm2
工作 波长 : 900-1700 nm 空间分辨率 : 60 μm
采 采 样 样  点 : 160 × 120 数 数 据 据 接 接  口: 千兆以太网
精 度 : 15 nm RMS 灵 敏 度 : <2 nm RMS
采样频率 : 120 fps 处 处 理 理 频 频  率 : 7 fps (高分辨率)
尺 寸 : 100 × 55 × 63mm 重 量 : ~455g

单位名称:上海瞬渺光电技术有限公司
详细地址:上海市闵行区都会路2338号总部一号47号楼3楼
QQ:2113569210
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传真:021-34635260
Email:sandy@rayscience.com