透射电镜原位电学性能测试系统
透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验 手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装 扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操控和电学测量。并可在电学测量 的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极 大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。 本系统包括包括两部分，分别是扫描探针控制器（内含电流前置放大器）与原位测量样品杆部分。
透射电镜原位光电性质测试系统
本系统是在透射电镜标准样品杆内加装扫描探针控制单元，可在三维空间内对电学探针与光纤探针进行亚纳米级精度的操纵与定位。通过电学探针施加电场，通过光纤施加光场，对单个纳米结构进行操控并进行电学性质、光学性质的测量。并可在物性测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电镜的功能与应用领域。
透射电镜原位力学-电学性能测试系统
透射电子显微镜原位力学-电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内 加装扫描探针控制单元和纳牛顿力传感器，通过探针对单个纳米结构进行操控和拉应 力、压应力、电学测量。并可在力学、电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶 体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电子显微镜的功能与 应用领域。 本系统包括包括两部分，分别是扫描探针控制器与原位测量样品杆部分。
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