REM-Ⅲ表面氡析出率测量仪中辐院，由中国辐射防护研究院研发生产，其造型和结构具有典型的优越性，能“实时”“快速”测量介质表面氡的析出水平，可用于地下工程、矿山井下、旅游山洞、核设施场所、尾矿库以及建材、土壤、地面等表面氡析出率测量，是一种寻找氡的来源和氡治理的必备装置。适合于GB50325《民用建筑工程室内环境污染控制规范》（2006年版）要求的土壤表面氡析出率测定，也可在建筑施工或装修前就石材、水泥、涂料等建筑材料进行放射性检测与识别，指导选用优质建材。该仪器2004年已获国家实用新型专利，专利号：ZL200420096051.0。
技术参数：
半导体探测器Ф30mm
灵敏度：1.1×cph/Bq/m3(氡)
衰变室体积3.6升
探测器前有靠静电作用收集218Po离子的铝膜，采用镶嵌铝膜结构，实现快速测量（高水平环境），不需要更换铝膜
对239Pu α面源的探测效率：35%(2π)
计数容量99999999，测量范围：5×10-5～102Bq/(m2·s)
测量时间：方式2为1～120分内据其氡析出率高低自行设置，方式1为连续测量，可保存200个历史测量值
具有可改变参数设置，自动显示，可即时给出测量结果等特点
可不使用外置打印机，测量历史值按输出键即可查出
环境温度：-5～40℃;相对湿度：≤90%
供电电源：内置6V蓄电池，配有专门充电器
尺寸与重量：290*290*280，6.5Kg
联系人：张经理 13720045883
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