Zeta电位分析SZ-100系列纳米…

Zeta电位分析SZ-100系列纳米颗粒分析仪
产品简介
详细介绍
  • 参考报价:电议 产地:日本 品牌:无 型号:SZ 100 更新时间:2017/1/4

概要

SZ-100系列纳米颗粒分析仪在描述小颗粒物理性质方面是灵活的分析工具。根据不同的配置和应用程序可以完成颗粒度的分析,zeta电位的检测,分子量(Mw)以及第二维利系数(A2)的测定。SZ-100的典型应用包括:纳米颗粒,胶体,乳液以及亚微米悬浮液。

颗粒分析仪采用动态光散射原理(DLS)。根据样品的物理性质,动态测量范围为0.3 nm – 8 μm。检测范围的下限受到以下因素的影响:样品浓度、样品对光的散射强度以及大的杂质颗粒的存在。检测上限受样品浓度影响,因为DLS原理是颗粒的布朗运动而不是重力沉降。

SZ-100以颗粒表面电荷特性来检测悬浮液的zeta电位。将样品注入一次性样品池,通过颗粒电泳迁移率的结果计算zeta电位。 zeta电位通常是样品分散稳定性的一个指标。Zeta电位的数值较大表明颗粒带电较多,斥力较大,较难发生团聚,溶液保持稳定。通常根据pH值或其他化学参数的改变检测zeta电位以便于设计可长时间保存的产品。相反地,发现zeta电位为零时(就是说,样品处于等电点),就要考虑选择最佳条件将颗粒进行絮凝和分离。

SZ-100还可以用于检测蛋白质、聚合物及其他大分子的分子量和第二维利系数。用户准备几个已知浓度的溶液,然后使用系统的静态光散射模式绘制Debye曲线,从而计算出MwA2

特征

  • 将粒度、zeta电位、分子量及第二维利系数的检测集于一身
  • 宽检测范围,宽浓度范围
  • 双光路双角度粒径测量(90° 173°
  • 多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光
  • 用于粒径和zeta电位检测的微量样品池
  • 自动滴定仪:可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
  •  

    規格

     

    粒径:动态光散射原理(DSL)

    测量范围

    • 颗粒直径:0.3nm-8.0μm

     

    测量精度

     

    • 粒径:按照ISO 13321/22412
      • 可溯源的NIST聚苯乙烯乳胶颗粒:100nm测量精度= +/- 2%

    浓度

    • 下限:0.1 mg/mL溶菌酶
    • 上限:40 wt % (视样品而定)

    测量时间

    • 粒径分析一般需大约2分钟(可自行设定)

    样品池

    •  比色皿样品池

    取样量

      • 12μ 4ml* 取样量取决于样品池容量。)

    Zeta

    测量范围

    • -200 – +200mV

     

    测量时间

     

      • 一般需大约2分钟

    样品池

    •  专用一次性样品池 

    取样量

      • ~100μl,一次性样品池

    分子量:静态光散射德拜曲线法

    测量范围

    •  Mw: 1×10- 2×107 g/mol

    样品池

    •  比色皿样品池

    物理参数

    电源:AC 100-240V, 50/60Hz, 150VA

    激光:二极管泵浦倍频激光器 532 nm10 mW I

    接口:USB 2.0,连接电脑与设备

    外形尺寸:385(D) ′ 528(W) ′ 273(H) mm (不计凸起部分)

    重量:25kg

    控温范围:1-90℃,电极池和塑料池上限为70℃

    工作环境:15-35℃,相对湿度85%,无结露

    冷凝控制:可连接吹扫气


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