Thermal probe system热扫描探针系统，联用AFM显微镜，既能实现AFM探针常规轻敲和接触扫描，获得高清晰度的图像，同时能够实现样品热学性质的探测。尤其适用于高分子材料组分热学性质评估。
模块性能：
可以同时实现样品表面形貌扫描和材料相关热学性能测试
1） 温度；
2） 温度梯度变化曲线；
3） 定性热导率；
4） 相变温度；
5） 定性热容量；
模块优势：
1）高性价比，能实现热学扫描及热学性质测试的功能，价格仅为其为同类产品的一半；
2）精细测量，能达到20nm区域测温；
3）耐高温，针尖在700℃高温下也不易变形；
模块扫描机制：
应用领域：
Thermal Probe system适用于太阳能电池、有机发光材料研究、发光器件以及其它对高分子热学性质探测、高分子组分特点研究等各个领域。