产品名称：数字式四探针测试计 多用途综合测量装置
产品型号: WS50-1934B
产品编号: 32651
数字式四探针测试计 多用途综合测量装置 的详细介绍
详细参数
测量范围 电阻率：10-2～102Ω-cm；方块电阻：10-1～103Ω/□；电阻：10-3～9999Ω
可测半导体材料尺寸 直径：Φ15～100mm； 长（或高）度： ≤400mm
电源
功 耗：<1W； 电源适配器：输入:220V±10% 50Hz； 输出:DC5V±10%
外形尺寸 主机 170mm（D）×130 mm（W）×50mm（H）
产品说明
数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（亦称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低、中值电阻进行测量，适用于半导体、太阳能行业的筛选。
产品特点
仪器由主机、测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果由数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头高分子材料和高耐磨碳化钨探针制成，故定位准确、游移率小、寿命长。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。(自动调零)