干涉显微镜光洁度测量装置

干涉显微镜光洁度测量装置
产品简介
详细介绍
  • 参考报价:1 产地:北京 品牌:zk 型号:KJ37-6JA(JBS) 更新时间:2013/10/17

产品名称:干涉显微镜 光洁度测量装置
产品型号: KJ37-6JA(JBS)
产品编号: 39738

干涉显微镜 光洁度测量装置  的详细介绍
用途特点
用来测量精密零件(平面、圆柱等)表面光洁度的仪器,也可以测量表面刻线、镀层等深度。
仪器配以各种附件,还能测量微颗粒,加工纹路混乱的表面,低反射率的工件表面,也能将仪器安置在大型工件表面进行测量。
仪器测量表面不平深度的范围为1-0.03微米,可用测微目镜和照相方法来评定▽10~▽14 光洁度的表面。
仪器适用于企业计量室,精密加工车间,及科研和大专院校等单位。

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