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bruker baltic ElSix电制冷SiLi探测器的X-射线仪
ElSiX系统采用电制冷冷却，可以进行X射线荧光分析、X射线双色层分析仪和X射线能谱仪，适用于液氮制冷方法无法或者禁止使用的领域。
全套系统包括：Si(Li)探测器、压缩单元和气体连接线。
仪器特征
□无液氮冷却
□高能量分辨率
□薄铍窗
□任何空间方位的检测
□断电后的自动重启
□长期持续功能
□设计紧凑重量轻
技术参数
□能量范围：1~60keV
□能量为5.9keV时的分辨率：
■16μs的成峰时间：138keV
■1μs的成峰时间：268keV
■记数率为105cps，成峰时间1μs：275keV
□峰/本底的比率：>4000
□冷却时间：3小时
□环境温度：-5℃~+38℃ □ 操作模式：持续测量
□方位空间的限制：任意
□电压/频率：220V/50Hz
□功率：<60W
□尺寸：
■检测单元：80×135×150mm
■压缩单元：140×160×300mm
□重量：
■检测单元：1.8kg
■压缩单元：7.5kg
□工作的使用寿命（平均无故障时间）：85000小时