纳米薄膜材料/硅酸锂比表面…

纳米薄膜材料/硅酸锂比表面积/孔径分析仪
产品简介
详细介绍
  • 参考报价:136000 产地:北京 品牌:金埃谱-app 型号:V-Sorb2800 更新时间:2013/3/4

V-Sorb 2800 全自动比表面及孔径分析仪技术指标及特点

(一)性能参数
测试方法及功能:
静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,BJH总孔体积及孔径分析,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,CO2-冰水法微孔分析,t-plot图法外比表面积测定,样品真密度测定和平均粒径估算,采用强大的在线数据分析系统(与利技术:软著第0330206号)和比表面及孔径测试系统(与利技术:软著第0330199号),确保测试数据更稳定,更精确.
测量范围:
0.01(m2/g)--至无上限(比表面积);0.35nm-400nm(孔径)
测量精度:
重复性误差小于1.5%
真空系统:
V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统(与利技术: 软著第0330201号),大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分布测定的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命。
液位控制:
V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持丌变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差。
测试模式:
V-Sorb独创的集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合国际标准,可确保结果的准确性和一致性,丏操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,丌适宜采用氦气测定的死体积空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果.
控制系统:
采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命。
样品数量:
同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,幵丏样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避克了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命
样品处理:
样品处理的全过程通过软件来自动控制,包括温度、时间及真空泵启停,幵丏具备处理开始时间的预设功能,可实现夜间无人值守式测试和处理样品,大大提高工作效率.
压力测量:
采用原装进口的硅薄膜电容式压力传感器分段测量压力,显著提高 P/Po点测试精度,配置2支压力传感器,压力传感器必须提供相应进口检测证书
压力精度:
高精度进口硅薄膜电容式压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)
真空泵:
进口双极真空泵内置仪器中,可以通过软件根据实验需要自劢控制真空泵启停,从而延长真空泵寿命
液氮杯:
采用进口4升大容量不锈钢内胆杜瓦瓶,经久耐用,丌易破损,在无需增加保温盖的条件下可连续进行72小时测试,无需添加液氮,能完全满足孔径长时间测试需求
分压范围:
P/Po 准确可控范围达5x10-6-0.995
极限真空:
4x10-2Pa (3x10-4Torr)
样品类型:
粉末,颗粒,纤维及片状材料等
测试气体:
高纯N2气(99.999%)戒其它(按需选择如Ar,Kr)
标定气体:
具备可选择使用He气(99.999%)进行冷自由空间体积标定的功能,丌能仅仅只具备采用“氮气+空管”模式标定冷自由空间
数据采集:
采用主流的数据采集存储系统(与利技术: 软著第0330205号)和高精度及高集成度数据采集模块,误差小,抗干扰能力强;
数据处理:
Windows兼容数据处理软件,功能完善,操作简单,多种模式数据分析,图形化数据分析结果报表。
售后保障:
生产企业法人营业执照注册资本200万以上;产品必须具备国科委技术鉴定证书和计量院检测证书,生产企业产品必须获得ISO9001质量认证.
仪器规格:
尺寸:长70×宽70×高85(CM);重量:60公斤;电压:交流220V;电流:5A

单位名称:北京方大天云科技有限公司
详细地址:北京市海淀区苏州街18号长远天地大厦二单元501
QQ:1047937954
联系手机:
联系电话:
我要咨询:我要咨询
传真:88921636
Email:1047937954@qq.com
询价热线在线客服QQ咨询