光伏领域用途：
硅材料中O、C杂质元素分析
硅片厚度测量
材料光老化分析：1720cm-1羰基累计量分析
■ 硅单晶中O、C含量测量附件
执行标准： GB/T 1557-1989《硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法》
专用硅片样品固定架
可实现硅单晶中O、C含量自动、快速、准确的测量
检测下限：
测量硅片厚度范围： 0.1~3.5mm
波数范围： 7800-400cm-1