1. 计算机全数字化控制，操作简捷直观。
2. 步进马达自动进行针尖－－样品逼近，保证实验圆满成功。
3. 深度陡度测量，三维显示。
4. 纳米材料粗糙度测量、颗粒径度测量及分布统计。
5. Ｘ、Ｙ二维样品移动平台，快速搜索样品区域．
6. 标准RS232串行接口,无需任何计算机卡
7. 样品观测范围从0.001um-20000um。
8. 扫描速度达40000点/秒
9. 可选配纳米刻蚀功能模块。
1. SPM探头
2. 样品尺寸：直径小等于30mm；厚度小等于15mm。
3. XY最大扫描范围：标准6×6微米
4. XY向分辨率：0.4nm(轻敲模式)；0.3nm（AFM模式）；0.1nm(STM模式)
5. Ｚ向分辨率：0.05nm(轻敲模式)；0.03nm（AFM模式）；001nm(STM模式)
6. XY二维样品移动范围：5mm；精度0.5微米
7. 步进马达自动进行针尖-样品逼近
8. 44-283X连续变倍彩色CCD显微观察系统(选配)
9. AFM电化学针尖块，液电池，液体轻敲式成像功能（选配）
10. 全金属屏蔽防震隔音箱/精密隔震平台（选购）
电子学控制器:
1. XTZ控制:18-Bit D/A
2. 数据采样: 14-BitA/D、16 Bit A/D多路同步采样
3. Z向反馈: DSP数字反馈
4. 反馈采样速率: 64.0KHz
5. 高压放大器: 集成高压运算放大器，最大电压范围+/-150V
6. 频率范围: 20K-1000KHz
7. 幅度范围: 0-10.0V
8. 扫描速率: >40000点/秒
9. 扫描角度: 0-360度连续可调
10. 扫描偏移: 任意
11. 图像采样点: 256×256或512×512
12. 步进马达控制: 手动和自动进退
13. 计算机接口: 标准RS232串行/USB