山东测厚仪,济南薄膜测厚仪,上海测厚仪,高精度测厚仪,广州测厚仪
CHY-C2测厚仪是Labthink兰光自主研发生产的一款专业用于薄膜、纸张、薄片、硅片等片材厚度检测的高精度试验仪器。测厚仪采用机械式测量方法,适用于塑料薄膜量程范围内各种材料的精确厚度测量。符合GB 6672(塑料薄膜和薄片厚度的测定--机械测量法)、GB/T 451.3-2002(纸和纸板厚度的测定)、GB/T 6547、ASTM D645、ASMT D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817等测试标准。
测厚仪技术指标
测量范围:0~2mm(常规)(0~6mm可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);〔50±1kPa(纸张)〕
接触面积:50mm2(薄膜);〔200mm2(纸张)〕
以上测厚仪信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!