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 SunScan冠层分析系统 |
| 用途：SunScan是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射（PAR）的系统，提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息，如叶面积指数（LAI）。SunScan不需要等待特殊的天气条件进行使用，可以在大多数光照条件下进行测量工作（但是最好是在接近中午的时候）。 特点： ·在植物冠层中测量入射和投射光量子（PAR）； ·直接显示叶面积指数（LAI）； ·专用B [点击查看详情...] |
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产地：英国
公司网址：http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=3