type81 空间分辨率测试卡 10lp ABX
Type 46: 0.8 ... 9.5 LP/mm / 2x 15 groups致力于关注各种检测仪器，其中包括无损检测仪器，JIMA分辨率测试卡，用于测量X射线系统的分辨率，以保证X射线系统在微米和纳米焦点的图像质量。
为满足用户需求，现可提供各种用于测试系统分辨率的JIMA测试卡，如果您对上述测试卡感兴趣，请随时与我们联系
测试卡封装在一个防护盒中type81 空间分辨率测试卡 10lp ABX
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×15mm
芯片尺寸（W×D×T）：5×5×0.06mm
图案布局：L型
线/空间尺寸： 16种规格图案,
0.4μm,0.5μm,0.6μm,0.7μm,0.8μm,0.9μm,1.0μm,1.5μm,
2.0μm,3.0μm,4.0μm,5.0μm,6.0μm,7.0,10.0μm,15.0μm
技术核心：
双能图像获取及反符合技术也是XC-Thor 系列探测器的一大特色。双能成像时，被探测的光子能量被两个独立的能量阈值进行比较并分别读出、一次曝光下即可产生剪影，进而实现组织剥离和材料区分，为医疗和工业领域的X 射线应用翻开了新的一页。反符合技术则确保了
每一个光子信号都能准确的被相对应的像素点所捕获，从而显著提升设备的调制传递函数(MTF)。
应用领域：
XC-Thor 系列探测器有效探测区域的可选长度为8cm、10cm 或15cm，宽度上则可选择1.28cm、2.56cm 及5.12cm 三种。同时，两种厚度的CdTe(碲化镉)晶体可选：0.75mm 适用于常规X 射线能量（≤160kV），2mm 则应用于高能射线源(≤300kV)。由此可见，XC-Thor 探测器具有极强的环境适应性，可以胜任多种不同领域的应用。由于探测器本身加装了坚固耐久的外壳，可直接加装在现有射线扫描系统上，应用于诸如焊缝、管道检测或是便携式的野外勘探设备上。
type81 空间分辨率测试卡 10lp ABX