OptoTop®High-precision 3D Profilometer
OptoTop® 是一项通过激光三角测量，对材料的几何概貌（宏观和微观）进行快速和非接触测量的光学表面测量系统。通过OptoTop® 可以得到平坦的、粗糙的、及曲面的材料表面光学粗糙度的信息。另外，OptoTop® 还可以对材料表面进行3D的评估，从而找出结构上存在的潜在缺陷。
光学表面测量系统：用于在无接触方式下，测量表面轮廓，高复杂的纳米，微米及宏观的几何结构，应用于研究与开发，入库检验，质量管理及不合格分析。
优点：
※ 简单方便的操作
※ 快速的数据采集
※ 对各种样品，材料和涂装进行智能检测。
※ 线性轮廓的微粗糙度值
※ 粗糙度值测试（构造–纹理分析）
※ 实现以2-D线性剖面显示，3-D显示表面轮廓及高度剖面
技术参数：
※ 感应器：色光式共轭焦
※ 测量范围Z*：300μm 1mm 2mm
※ 解析度Z*：12nm 25nm 75nm
※ 侧向解析度：1.55μm 2μm 4μm
※ 测量感应距离：11mm 12.7mm 16.4mm
※ 测量频率：30Hz，100Hz，300Hz，1kHz
※ 标准XY轴试验范围：60x60mm
※ 移动速度：0.1 ~ 10mm/s
※ 标准样品台大小：165x165mm或定制品
应用范围：
※ 对于平坦表面、有结构表面及弯曲表面的粗糙度及结构分析。
※ 测量宏观和微观的几何结构，平面控制。
※ 表面控制，例如压花辊（选购配件：移动式装置）
Example：写字用纸
Example：结构性皮革（3-D轮廓）
Example：Freshel（佛氏聚光灯）镜片（3-D轮廓
