1. SDD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍。
2. 分辨率大大地提高到了，<155keV.
3. SDD强大的获取数据能力使仪器分析速度极快。
4. Au的检测下限LOD高达2ppm, 对贵重金属矿石的如Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd的分析有极佳的效果。
5. 可以测试Mg、Al、Si，具有良好的检测下限。
6. 元素的检测下限LOD在SDD状态下有极大的提高，普遍提高1~15倍。
7. 在高含量的矿石分析模式MINING中增加了 BEAM2的功能，可分析Mg, Al, Si, P, S, K, Ca等元素。
8. 可选配真空选件, 在真空状态下,Mg的LOD可以提高3倍,Al的LOD可以提高2倍,Si, P, S的LOD可提高0.5~2倍
9. 可选配GIS数据采集手簿TRIMBLE，数据与GPS实现绑，可将仪器测试点的矿化信息通过蓝牙传到TRIMBLE上,再与TRIMBLE上自动产生的经度、纬度、海拔进行连接,实现测试信息与GPS同步处理。
10. 数据与GPS同步输出，可在每一个测试结果中自动附加GPS信息,这些结果可以被专业的地球物理分析软件自动引用。
11. GPS可以实现用户自定义。
12. 选配GIS数据采集手簿TRIMBLE可以很容易实现地图引用下载。,Explorer测试的每一个点皆可以显示在屏幕实际地图中,只要选取屏幕地图中的点就可以查看分析数据与GPS数据，这些数据组可在TRIMBLE中进行所需要的地质矿化分析。
13. 工业级可触摸的显示屏与主机一体化密封设计，可承受野外恶劣的工作环境。密封的仪器可在雨天、尘土飞扬的矿山环境中长时间正常工作。