产品简介：
晶体在转换、脱水、溶解、凝固时通常会发生变化。在相同条件下，同时测量热变化和晶体状态变化---XRD-DSC攻克了这一难题，实现了X射线衍射和DSC的同时测量。通过同时测量，可以观测到很多迄今为止无法观测的现象。与各种测量方法比较，大幅度提高了研究开发、质量评估的效率。开创了在样品、温度及测量气愤都相同的条件下采集数据的新方法。
·对于不能进行急速冷却处理的样品及贵重样品，即使是5～30mg的微量样品也可以同时测量。（所需样品量根据样品种类有所不同）。
·使用专用软件，仅选择表现形式即可将X射线衍射profile和DSCprofile结合起来。
·DSC采用热流束型，在温度控制、测温精度、DSC灵敏度方面可以和通用热分析一样进行DSC单独测量。
·如果搭配使用选件中的湿度HUM-1，可以评价加湿气氛下晶体结构变化及稳定性。
·可以作为附件与你正使用的D/max-2000/PC Ultima+系列测角仪搭配使用。
湿度发身器 HUN-1（选件）