X射线荧光镀层厚度测量仪SF…

X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9455M型
产品简介
详细介绍
  • 参考报价:暂无 产地:日本 品牌:SII 型号:SFT9455M型 添加时间:2007/5/16 9:25:23

产品介绍
SFT9000系列里最高的机型就是SFT9455。搭载着75W高性能X射线管和双向分离工检测器(半导体检测器+比例计数管),符合“薄膜”、“合金膜”、“极微小部分测定”等镀膜厚度测定要求的高性能膜厚度测量仪。SFT9455还在镀膜厚度测定功能的基础之上增加了异物定性和查资料成分分析的功能。

单位名称:精工盈司电子科技(上海)有限公司
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