产品介绍
一、FT160X射线荧光光谱仪行业应用介绍：
随着电子设备和电子元件越来越小、越来越复杂，这些元件上所镀金属饰面必须小型化、如更薄的镀层、更严格的控制偏差。如果镀层太薄，将造成材料和金钱的浪费，并且可能存在机械贴合问题，从而导致报废或返工费用高昂。
因为是非破坏性的快速、直接测量，X射线荧光（XRF）成为一种广泛使用的镀层厚度和成分测量技术，为测量小型化的镀层，传统XRF分析仪使用机械准直装置将X射线管的光束尺寸减小到几分之一毫米。这一过程通过在X射线管前方放置一小块钻有小孔的金属块实现，仅允许与孔对准的X射线穿过并到达样品。绝大多少X射线 输出不能用于分析，因为它被准直器块阻挡。
二、FT160X射线荧光光谱分析仪的优点：
较为新型的惊喜特征测量方法是使用毛细聚焦管光学元件。这是一个聚焦光学元件，由一组弯曲为锥形的细小玻璃管组成。X射线强度比机械准直系统高出几个数量级。XRF镀层测量仪中的毛细聚焦管光学元件具有以下几个优点：
１、更小的特征测量
毛细聚焦管光学元件的光束尺寸小于30um，因此可以测量微电子设备、高级电路板、连接器、引脚框架和晶片的超精细特征。它可以测量机械准直器无法测量的区域。
2、更薄的镀层测量
FT160X射线荧光光谱仪装有毛细聚焦管，能将更多的X射线管输出聚焦到样品上，从而测量纳米级的镀层。
３、更高的测试量和更高的置信度
光学器件产生的更大强度带来更高的计数率。在XRF中，更高的计数率意味着更高的精度和更快的结果。这可以在任何给定时间段内进行更多的测量且得到置信度更高的结果，从而实现更好的质量控制和更紧密的生产。
三、FT160X射线荧光光谱仪样品操作
这款仪器是激光点辅助样品对位及固定焦距激光点对焦，FT160X射线荧光光谱仪的视野范围在0.5*0.5mm到4*4mm，针对4、5、6、8和12的晶圆我们配备可选择的晶圆模具。
四、FT160X射线荧光光谱仪图像识别功能
1、 识别步骤：首先仪器会指导软件识别样品的四个特征位置，然后根据这个四个特征位置来确定样品的测试点，最后定义误差；
2、测试方法：我们先要放置样品进入视窗，然后软件会自动识别样品测试位置；
3、测试优势：此款仪器能够简单便捷的定位样品，确保待测点的位置，适用于大批次相同样品的测试。
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