产品介绍
牛津全自动膜厚仪X-Strata920是利用X射线快速可靠的对镀层厚度测量及材料分析。广泛应用于多个行业，如电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品等，可以对这些行业的表面镀层厚度进行测量及材料元素分析，从而让我们产品厚度及成分更加精确。
牛津全自动膜厚仪X-Strata920的特点：
测量范围为钛Ti22---铀U92间各元素；
同时测量5层镀层（含基材镀层），15种元素共存校正；
进行非接触、非破坏的能量色散X射线荧光（EDXRF）分析，进行无损测量；
1.测量时间短，测量时间约10秒，快速得出测量结果；
2.测量结果报告可直接打印、输出到PDF、Excel文档；
3.报告可包含：数据、被测样品点图片、各种统计报表、客户信息；
4.系统安全有：X射线警示灯、X射线锁、红色急停开关、样品室开闭门传感器、光闸传感器、使用者和管理员分级密码管理等；
5.贵重金属分析和金纯度检查（即Au karat评价）；
6.操作简便，一键定焦，有效避免人为操作误差；
7.提供NIST认证的标准片；
8.享有全球的服务与支持。
测量性能：
测厚范围：取决于具体的应用。
测量精度：
1.膜厚≤20μin时，测量误差值为：第一层（最上层）±1μin，第二层±2μin，第二层±3μin
2.膜厚＞20μin时，测量误差值为：第一层（最上层）±5%，第二层±10%，第二层±15%
牛津全自动膜厚仪X-Strata920是牛津仪器最新开发的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品，系统软件、硬件均进行了更新。具有非破坏、非接触、无损测量的能力；一键定焦，有效避免人为操作误差；快速简洁，仅需10秒即可得出测量结果；测量报告输出多样化。标准台面镀层膜厚仪适用于大多数行业，价格优惠，是质量控制、节约成本的最佳检测工具。
在售后维护方面：我们拥有着一支具有多年X射线荧光分析仪器经验的团队，公司百分之八十的工程师都是从事牛津仪器行业十多年。我们有着充足的经验和优质的产品，非常期待与世界各界的朋友合作。
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