产品介绍
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪产品介绍
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率;手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中,它是能测量到最薄和精度最高的一类。
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要实验内容
1、了解并熟悉仪器的工作原理和性能
2、掌握如何利用设备测试样品的方法
良益LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要配置参数
天津良益科技股份有限公司座落于美丽的滨海城市天津,,是一家从事教育装备专业的生产商和方案的提供商;集高等教育教学仪器、教育实训装备于一体的研发、生产、培训基地;是…... 了解更多>>