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 美国Allied切割研磨机ic研磨去层反向失效分析元器件测试抛光

  • 属性
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  • 产地:  美国
  • 关注度:  次
  • 品牌:  美国Allied
  • 型号:    美国Allied
  • 厂商性质:  生产型,
  • 价格:  电议
  • 添加时间:  2018/1/2

半导体失效分析设备生产商,整合商。手动探针台probe,激光开封机laser decap,微光显微镜emmi,IV自动曲线量测仪,红外显微镜,磁场效应探针台 高压探针台 半自动探针台(20…...  了解更多>>

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