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产品介绍

美国Microvision System成立于1993年，是全球显示器测试系统的主要供应商，可以检测FPD CRT,PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD投影机等，应用于R&D, QC及工业测试。Microvision System以技术先进的产品及完善的售后服务，赢得用户的尊敬。

系统功能说明：

Microvision显示器测量系统可选择两种取样探头SS410及SS420，使用一组抵用平台和控制电脑，经由专业控制软件，进行显示器光学特性的自动测量和分析。

SS420显示屏测量系统

自动测试特征离轴性能

自动测试平台

- TCO显示屏6.0和TCO笔记本

- ISO 9241-307平板规格

- VESA FPDM 2.0

- 用户定义测试平台

光像分析

- 亮度/对比度 vs 视角

- 亮度均匀度

- 对比度图

- 伽马图

- 反射测量

亮度分析

- 亮度vs视角

- 色彩均匀度

- 相关色温

- 色差

- CIE色度图

时域分析（选项）

- 灰阶转换时间

- 响应时间

- 闪光

- 动态模糊和MPRT

3D分析

眼镜测量

消光系数

串扰/重影

系统简介：

SS420平板显示屏测量系统是一款专业性系统，可自动分析所有类型的平板和投影显示屏的图像质量。SS420系统是一款基于电脑的测量系统，采用了收集离轴数据的测角方法。SS420系统是一款全集成系统，操作简单、灵活，是一款自动化测试平台。

采用了衍射光栅光谱仪，可实现精准的亮度和色度测量，无需彩色滤镜和减去了滤镜匹配的麻烦。一个单光纤缆线搭配准直  光学和光谱仪。机械定位器实现了在测试环境下可移动探测器到面板上任何位置，同时测角装配提供了离轴测量的功能。石英消偏器消除了偏振的效果。

在常规的操作模式中，定位系统可移动光谱仪到所要的测量位置在垂直方向定位的显示屏（可选择水平安装）。显示屏面板的模式和颜色驱动来自于模式发生器。鼠标的单次点击可实现多种预编程测试或者测试平台可生成测量数据的报告。

系统组件：

机械定位系统

Microvision定位系统提供了水平方向(X) 、垂直方向(Y) 和纵向方向(Z)轴的移动以及全集成了驱动电子、电源和包括在平台水平位置的接口。定位系统通过软件的控制或者操作鼠标和键盘实现自动化操作。

SS420系统包括了测角组件装配在基本定位系统，提供了在倾角和方位角的轴线中的自动化离轴移动。数字采集的阶梯增量相当灵活以及用户编程化。

系统软件

SS420系统适用于Win7操作系统，因为在Win7操作系统中GUI可允许系统的易点和点击操作和控制。GUI使得软件操作直观以及提供了完成一系列的显示屏分析和测量的功能。测量数据以文本文件和CSV文档报告生成，以及全彩色图的形式展示以便更简单地解释结果数据。

光学

SS420光学系统包括了一个12mm准直镜头和一个石英消偏器。镜头收集了准直接光束从显示器表面发出和石英消偏器消除了在测试环境下面板中偏振光的效果。光学系统把光束汇聚单个元素光纤缆线连接到光谱仪。光学系统安装在测角组件提供了离轴测量。光学系统的接受角度可进行调整从而适用于各行各业的应用领域。一般而言，光学系统的接受角度设定为1.5度。中性密度滤光镜有50%，25%，10%和1%以及一个5mm标准孔径提供。

计算机系统

SS420系统集成了最先进的电脑，提供了全部系统组件的控制。可选择标准的台式电脑或者笔记本。

光谱仪

SS420系统是配置了非常高分辨率，多元素，温度控制衍射光栅光谱仪。仪器校准到NIST可追溯标准以及通过使用计算机控制传感稳定温度进行校准。光谱仪提供了亮度和色度的测量，同时可测量整个可见光谱（380nm-780nm）中的频谱图。可选择近红外NIR。光纤组件缆线设定了光从测量表面发出到光谱仪的路径。由此产生的光谱会成像于2048元素CCD探测器以及数据会通过一个16位元 A/D转换器转换到计算机

SS420系统规格参数

衍射光栅光谱仪

测角仪规格参数：

分辨率

倾角:0.1° steps up to 85°

方位角：1.0° steps up to 360°