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产品介绍

产品介绍

数显叶片厚度仪（千分之一）SYS-YHD-3，叶片是植物重要的器官，其厚度变化可以反映出植物生长状态的变化，如光合作用、水分情况、蒸腾情况、土壤温湿度情况、养分情况等。研究表明，叶片厚度变化具有周期规律性，可分为长周期和短周期（24小时）。掌握这些规律对研究植物水分状态具有重要意义，还可以通过这些规律指导农业节水灌溉。

数显叶片厚度仪（千分之一）SYS-YHD-3产品特点

叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具，可以准确的测量出叶片的厚度。通常的灌溉系统是以空气的温度、湿度以及土壤的湿度作为控制参数，属于开环控制。针对这一问题，提出了以植物的器官(叶片、茎杆、果实)的几何参数为控制参数的智能节水灌溉控制系统，属于闭环控制。

数显叶片厚度仪（千分之一）SYS-YHD-3技术参数

测量范围：0--10mm

分 辨 率：0.01mm

精 度：0.02mm

接触面积：Φ10mm

读取装置：数显

型号功能区别

叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具，可以准确的测量出叶片的厚度。通常的灌溉系统是以空气的温度、湿度以及土壤的湿度作为控制参数，属于开环控制。针对这一问题，提出了以植物的器官(叶片、茎杆、果实)的几何参数为控制参数的智能节水灌溉控制系统，属于闭环控制