产品介绍
比表面测定仪
JW-RB型静态容量法BET比表面测定仪
比表面测定仪产 品 特 点：
比表面测定仪技术参数
比表面测定仪功 能： ＢＥＴ比表面测定（单点法、多点法）， Ｌａｎｇｍｕｉｒ比表面测定，本机以测定比表面为主，也可测定等温吸附曲线，进行ＢＪＨ法介孔孔径分析和t-图法微孔分析
比表面测定仪气 体： 高纯氮气
比表面测定仪极限真空度：６．８×１０－２Ｐａ
比表面测定仪氮 分 压： 0.０１～ 0.35 ～ ０．995，
比表面测定仪控制精度： ０.00025
比表面测定仪压力设置： 最小间隔0.01，全程压力测试点可高达100个；
比表面测定仪测试范围： 比表面 ≥0.01M2/g , 无规定上限， 孔 径 0.7 ~ 400nm
比表面测定仪测试精度： ≤±２%
比表面测定仪样品数量： 2个测试样品，预处理同位进行
比表面测定仪运行方式： 全自动运行；
比表面测定仪特点
* 本公司独创的静态容量法分析仪，全自动进行，内置真空泵，结构紧凑；
* 一次装2个样品，预处理与测试同位进行，测试时真空度≤1Pa；
* 氮气分压精确控制，间隔≤0.01，等温吸附测试压力点可高于100点；
* 测试只用氮气，不用氦气，氮气及液氮消耗量极小，大大降低测试成本；
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