产品介绍
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【宇问EC770涂层测厚仪简介】
宇问EC770薄膜测厚仪，能同时测量磁性基材表面（如钢、铁等）的非磁性涂镀层（如油漆、陶瓷、铬等），以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层（如油漆等）。本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。【南北潮商城提供测厚仪选型模型及电子报价单和电子合同服务，全国含税包邮】
【宇问EC770薄膜测厚仪参数】
测量原理：磁感应（F探头）；涡流效应（N探头）
测量范围：0~1300um
测量误差：± (读数的3%+2um);
精度：0um~999um (1um), 1000um~1300um (0.01mm);
校准：零点校准，并支持最多4点校准
数据存储与分组：一个直接组（数据不保存）和四个通用组（数据可被保存），每组有单独的统计，报警上下限设置和校准设置。
统计值：支持平均值、最小值、值和标准方差。
支持单位：um, mm, mils
报警：用户可设置上下报警限，当发生报警时，液晶屏幕可显示提示。
最小曲率半径：凸1.5mm，凹25mm
最小测量面积：直径6mm
最小基材厚度：0.5mm（F探头）；0.3mm（N探头）
电脑接口：可通过USB口连接计算机下载数据
电源：两节1.5V AAA电池
操作温度：0~40℃
保存温度：--20℃ to 70℃
尺寸：110mm*53mm*24mm
重量：92g
【宇问EC770两用涂层测厚仪实拍图】
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