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   IDP-7300是一款全新开发研制的集镀层测厚、RoHS指令/卤素指令/八大重金属指令一体的X荧光光谱仪。集准确、快速、无损、直观及环保五大特点，采用分析仪器行业最先进的极速探测器技术（SDD）。采用德国专业技术，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

型号：

IDP-7300

测试对像：

粉末、固体、液体

元素分析范围：

钠（Na）－铀（U）

同时最多可测元素：

36种

含量分析范围：

1ppm～99.99%

工作稳定性：

总荧光强度为0.1％

测试时间：

60～200秒

探测器分辨率：

127eV±5

多道分析器：

4096道

进口高端DSP数字信号处理芯片

64位处理

X射线光管：

功率50W，靶材可选Ag、Rh、W、Mo

高压电源：

电压范围0~50KV，稳定度每小时小于0.05%

最低检出限：

Cd/Cr/Hg/Br≤1ppm,Pb/Sb/Se/Ba≤2ppm,Cl≤5ppm

探测系统：

全自动对点探测系统鼠标点击,自动对点

升降软件系统：

电控全自动机盖升降软件独立控制

外型尺寸：

720mm×560mm×450mm(不包括支脚)

测量仓：

400mm×280mm×100mm

重量：

70Kg

镀层技术参数：

可测镀层数：

最多可达5层

镀层种类：

单金属镀层、合金镀层

镀层识别精度：

分析检出限可达2ppm，最薄可测试0.005μm。

厚度测试范围：

轻金属（如：Ti、Cr等）0.01～50um

中金属（如：Ni、Cu、Zn、Pd、Ag、Sn等）0.01～30um

重金属（如：Pt、Au、Pb等）0.005～15um

配置

数量

单位

仪器主机部分主要配置

1

套

1. SDD硅漂移探测器(进口) AMPTEK

1

套

2.低功率X光管

1

个

3. 高压电源

1

个

4. 2048道数字多道分析器

1

套

5. 高精密CCD

1

个

6. 滤光片组

5

组

7. 准直器：8种准直器自动切换

6

个

仪器外围配置

1.  计算机：

联想商务一体机

1

套

2. HP彩色喷墨打印机

1

台

3. 银校正片

1

片

4.  塑料标准样品:  EC681K

1

袋

5.  样品杯、麦拉膜

若干

软件配置（选配）

RoHS/无卤检测

1

套