产品介绍
日本KETT膜厚仪 LE-373，LH-373，LZ-373
产品简介：
本仪器采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损的测量磁性金属基体（如铁、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上的非导电覆层的厚度（如珐琅、橡胶、油漆、塑料等）。
技术规格：
| 规格型号 | LE-373 | LH-373 | LZ-373 |
| 测定对象 | 磁性金属上非磁性涂镀层 | 非磁性金属上绝缘层 | 磁性金属上非磁性涂镀层非磁性金属上绝缘层 |
| 测定范围 | 0～3000um
或0～120.0mils | 0～1500um
或0～60.0mils | 0～3000um
或0～120.0mils |
| 测定精度 | <50um±1um , >50um±2% |
| 分 辨 率 | <100um 0.1um , >100um 1um |
| 功能统计 | 中、英、日、韩四国语言菜单，自动关机，背光设定。
可针对不同产品保留测量通道，数据可存储，可输出至电脑，可分批统计最大值、最小值、平均值、标准差。 配有专用数据处理软件 |
| 计量单位 | 公制、英制可自由切换 |
| 显示方式 | LCD液晶屏 |
| 操作面板 | 密封防水多功能数字键盘 |
| 随机附件 | 基体/校正标准片/电池/皮套/说明书 |
| 电 源 | DV6V 5#碱性电池×4个 |
| 体 积 | 75mm(W)×145(mmD)×21mm(H) |
| 重 量 | 500g |
膜厚仪，又叫膜厚计、膜厚测试仪，分为磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。 采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度
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