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    降落数值测定仪http://www.grainyq.com/product/281.html的介绍:

    1960年Mr. Perten发明了降落数值仪，用于测定小麦发芽损坏程度及决定面粉中淀粉酶或麦芽的合理添加量。瑞典波通仪器公司生产的降落数值仪是用于国际贸易仲裁的仪器，仪器检测结果国际公认，用于确认小麦等作物是否由于霉变或陈化而造成的品质下降，从而确定小麦等作物的等级和最终用途。5% 的发芽小麦，会将其余95%的好小麦带坏（导致降落数值降低）。在原粮收购贸易中，利用降落数值仪对粮食作物进行检测，根据降落数值的大小将小麦进行分仓放置，按质论价，拒收芽麦，会给您带来意想不到的效益。降落数值的大小对不同专用粉的影响很大，不同的专用粉应有不同的降落数值。降落数值可以确定生产出不同用途的专用粉。利用真菌型降落数值仪，可控制真菌酶的添加量，减少生产成本。

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