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1.JC1519-2000原理简述:
世界顶级高精度快速光谱辐射计一般由凹面平均衍射光栅和科学级CCD构成，世界上也只有极少数制造商能够提供如此高精度的CCD和光栅。然而实践证明即便是世界顶级的商用凹面平场衍射光栅和世界顶级的商用科学级CCD，在系统光学耦合匹配方面仍存在一定不足，远方公司在高精度快速光谱仪方面积累了丰富经验，改良了CCD与光栅的匹配设计，使整个系统的光学匹配更趋完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。此外，远方公司采用独特的杂散光控制技术、宽动态线性技术、精密CCD电子驱动技术和复变矩阵软件技术，并成功应用了带通色轮校正技术(BWCT)、分光积分结合技术(SBCT)，以及修正的NIST杂散光校正技术等多项专利技术，整个系统实现了前所未有的5.00E-05的极低杂散光水平（在A光源严格条件下）和0.3%的全动态光度线性性能。关键技术指标在全球处领先地位。
2. 技术特性:
(1) 可测<1μs的极快闪光全谱
(2) 0.3%的极高光度线性
(3) 到达0.01mcd的极高灵敏度
(4) 0.0015 x, y 的极高色坐标精度
(5) 5.00E-05的极低杂散光水平
(6)覆盖200nm~2550nm的极宽光谱范围
3.JC1519-2000优越的性能
(1) 低杂散光: 通过高精度的平场凹面光栅和LVF及BWCT技术的应用，JC1519-2000的杂散光是原有高精度光谱仪的十分之一。
(2)宽线性动态测量范围：SBCT技术大大提高了JC1519-2000的线性动态范围，此外，与普通CCD相比，JC1519-2000中所使用的科学级高灵敏度CCD也很大地拓宽了线性动态范围。
(3) 快速：毫秒级测量速度，JC1519-2000高精度科学级快速光谱辐射计采用科学级探测器代替机械扫描系统，可以在实现极短的测量时间，精确测量整个光谱范围。
(4)高精度：JC1519-2000专为高精度应用场合设计，采用世界顶级的科学级制冷型的阵列探测器和平场凹面光栅，配备精密的光学系统和电子线路设计，整个系统可以实现高分辨率、高灵敏度、低噪声、低杂散光和宽动态范围已达到精确测量的目的。
(5) 高重复性和稳定性：仪器没有机械运动的扫描机构，唯一会产生影响的温度因素也被恒温制冷技术控制到了±0.05℃的水平，测量的重复性和稳定性极高。
(6)小巧：由于不含机械扫描装置，JC1519-2000设计精巧，无机械磨损，相对寿命长，可靠性高。JC1519-2000设计轻巧，非常适合需要手提的应用场合。
(7)NIM和NIST 溯源：仪器直接由美国NIST和国家计量院传递标准，量值准确度高。
(8)光纤输入：采用光纤输入端，配置合适的光纤适配器以及相关附件后可以灵活的实现多种测量方案，这种灵活性使得JC1519-2000不仅应用在实验室和研究场合也可应用在质量控制和生产线上；
(9)测量附件：广泛的可选附件为HAAS－2000的应用提供了方便。 这些附件通过适配器与光纤相连。应用领域包括普通电光源、LED、LCD显示屏等的光谱辐射度和光度测量和光谱反射/投射测量。几乎所有的附件都由远方公司生产制造，所以不存在不兼容的问题。
(10) 高灵敏度：采用平场凹面光栅和HAMAMATSU TE-制冷背射式CCD，使得仪器的灵敏度极高，关于JC1519-2000的关键部件CCD，下文将作进一步阐述。
(11)关键部件：背射式CCD。
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