产品介绍
JC303-LED--LED测试仪 实验室等级LED量测系统 扫描(scanning)式的光谱仪详细介绍
本系统提供实验室等级的LED量测系统。使用高精刻度的光谱、稳定的A光源、设计精良的光强分布箱、侦测器、积分球、及人性化的电脑操作软件,提供全光谱、色温、色度、波长、功率、光强度、光强分布、及照度等的全功能自动控制,达到需要的待测物各种光参数的量测。本系统由积分球、侦测器、光谱仪、电流计、光强分布箱、及电脑控制为主要元件,搭配独家开发之控制软体,在简易的操作介面之下,担高测试准确度。并可达到自行校正波长及照度校正。选用本系统进行LED晶片生产及封装厂已有科学园区多家厂商。
此套系统使用的是扫描(scanning)式的光谱仪,解析度高,量测稳定。为了满足使用者多样的需求,提供了不同的测度项目,包括了IV,(X,Y),λd,λp,TC,CRI,FWHM,IP,VF,IR,IF,VF与THY。它也能测量不同形式的LED,例如LED CHIP,SMD,LAMP,MODULE,LED DISPLAY。
测试项目及规格
量测项目
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规格
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Reverse Current (逆向电流) (IF)
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0-1,00uA
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Reverse basic voltage(逆向电压)(Vf)
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0-50Vprogrammable
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Forward Current (顺向电流) (IF)
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0.1-1000mA
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Forward basic voltage(顺向电压 )(Vf)
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0-20Vprogrammable
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Peak Wavelength(尖峰波长)(λp)
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350-1050nm
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Luminance intensity(光强度)
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0-50,000mcd
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Radiance intensity (辐射强度)
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0-5000mW/sr
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Color Temperature(色温)
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1000-20,000K
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Dominant Wavelength(主波长) (λd)
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400-700nm
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Chromaticity coordiantes(色度坐标)
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CIE (x,y)
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Correlated Color temperature (相对色温)
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CCT,1,000-100,000K
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Purtiy(纯度)
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100%
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FWHM(半宽波长)
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0-200nm
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Center Wavelength(中心波长)
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350-1050nm
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Centroid Wavelength(重心波长)
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350-1050nm
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CRI(演色指数)
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0-100%
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适用范围
*LED晶片厂研发部及品管部,LED封装厂研发部及品管部,LED来料检验
*精准度到小数点4位小数,是实验室等级的光谱仪。随机附精密校正档及光学计算分析软体程序(DLLs)可用于对其他的仪器做校正用,提供全光谱、色温、色度、波长、CRI及光强度等全功自动控制,达到需要的待测物各种光参数的量测。
系统特色
*全自动化量测设计,操作介面简单
*使用者可自行与标准样品校正,无须负担庞大的校正费用
*软体可配合使用者的习惯或需要做部分修改;
*可产生各种使用者所需单色光谱光源及功率
*采用CIE 1931, 和CIE1976 U.C.S标准及演算等方法
系统硬件
型号
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规格
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光谱仪
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ARC SP-150,400-1100nm,解析度0.1nm
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optimum积分球
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ISP-050,50mm积分球
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Picoanmeter電流計
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Keithley#6485
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电源供应器
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Keithley#2400
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optimum system controller
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Windows系统自动控制操作程式 software driver,desktop pcg LCD monitor console软体规格为VisualBasic 6.0开发,相容Windows 98以上版本
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optical components
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侦测器,三色光源,光源箱,光纤及其他光学配件
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